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            MURA分析
             
            可將MURA、品味的程度圖像化,將測定結果數值化。
             
            可將輝度MURA的測定數值轉換成:日本半導體協會SEMI所定的SEMU值。
             
            可應用於MURA量測、漏光量測、HOT SPOT等測定。
             
             
             
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