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            近場光源光學特性測定
             
            測定波長範圍:可見光、紅外光。
             
            可見光:輝度均勻性、色度均勻性。
               紅外光:能量均勻性。
             
            晶片、封裝後等發光光源。
             
            ※ 備有詳細規格,歡迎來電或來信索取。
               
               
             
             
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